Автоматический спектрометр цена

ДоговариваемыйОбновление на01/18

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Микроскопический спектрометр USPM - RU - W в ближней инфракрасной области спектра Olympus позволяет проводить спектрометрию в широком диапазоне длин волн от видимой области света до ближней инфракрасной области спектра с высокой скоростью и высокой точностью. Поскольку он может легко измерять отражательную способность тонких областей и поверхностей, которые не могут быть измерены обычным спектрофотометром, Z подходит для таких продуктов, как оптические элементы и крошечные электронные компоненты.

Подробности о продукте

ОлимпскийМикроскопический спектрометр USPM - RU - W в ближней инфракрасной области спектраСпектроскопические измерения в широком диапазоне длин волн от видимой области света до ближней инфракрасной области могут проводиться с высокой скоростью и высокой точностью. Поскольку он может легко измерять отражение тонких областей и поверхностей, которые не могут быть измерены обычным спектрофотометром, zui подходит для таких продуктов, как оптические элементы и крошечные электронные компоненты.

Реальная функция измерения.
С помощью одного прибора можно проводить различные спектроскопические измерения альбедо, толщины мембраны, цвета объекта, скорости пропускания и отражательной способности под углом падения 45 градусов.

• Измерение альбедо
Измеряется альбедо в крошечных точках объектива с концентрацией от Фи 17 до 70 мкм.

• Определение толщины мембраны
Для измерения толщины пленки в однослойной и многослойной мембранах используются данные живого отражения от 50 нм до около 10 мкм.

• Определение цвета объекта
Показывать цветовую карту XY, цветовую карту L * a * b и соответствующие значения на основе данных отражательной способности.

• Определение пропускной способности
Пропускная способность плоских образцов измеряется с помощью параллельного света в размере Фи2 мм из нижней части приемной станции. (Выбор)

Измерение отражательной способности при углу падения 45 градусов
Отражая от боковой стороны на 45 градусов параллельный свет в размере Фи2 мм, измеряется его альбедо. (Выбор)

Высокая точность и высокоскоростное измерение поля

· Достижение высокоскоростных измерений
Одновременное спектроскопическое измерение всей длины волны с использованием плоской решетки и линейных датчиков для достижения высокоскоростного измерения.

• Zui подходит для определения альбедо мелких деталей и линз
Новые объективы, способные проводить бесконтактные измерения в измеренной области от Фи17 до 70 мкм. Обычный спектрофотометр не может измерить мелкие электронные компоненты или линзы и другие поверхности, а также может обеспечить высокое воспроизведение.

При измерении альбедо не требуется обратная отражательная обработка
Объединив объектив с круговым освещением, можно измерить отражательную способность Zui тонкой 0,2 мм * без необходимости отражательной обработки на обратной стороне обнаруженного предмета.

• Альтернативный метод определения толщины мембраны
Микроскопический спектрометр USPM - RU - W в ближней инфракрасной области спектраАнализ толщины мембраны на основе измеренных спектрофотометрических отражающих коэффициентов проводится на основе однослойной или многослойной мембраны. Метод измерения может быть выбран в зависимости от цели *.

: Спецификации
	Измерение альбедо			определение проницаемости* 1.	45 - градусный рефлектометр* 1.
название	микроспектрометр в ближней инфракрасной области спектра			для микроспектрометра в ближней инфракрасной области спектра Выбор аксессуаров путем измерения	для микроспектрометра в ближней инфракрасной области спектра 45 - градусный рефлектометр
модель	USPM-RU-W
Определение длины волны	380-1050нм
Метод измерения	Сравнительное определение эталонных образцов			* Измерение проницаемости исходных условий	Сравнительное определение эталонных образцов
Диапазон измерений	Ссылка на следующие спецификации объектива			Йоё 2,0 мм
Измерение воспроизводимость (3 сигма) * 2	Измерение альбедо	При использовании объективов 10×20 ×	± 0,02 [%] менее (430 - 10100нм), ± 0,2 [%] менее (кроме вышеуказанных)	± 1,25 [%] менее (430 - 10100нм), ± 5,0 [%] ниже (за исключением записи слева)
		При использовании объектива 40×	± 0,05 [%] менее (430 - 950 нм), ± 0,5 [%] менее (кроме вышеуказанных)
	толщинометрия	±1%		-
Длина волны показывает энергию разложения	1 нм
Подсветка	Источник света для галогенных ламп JC12V 55W (средний срок службы 700 ч)
приемный стол смещения	Размер несущей поверхности: 200 (W) × 200 (D) мм Вес: 3 кг Рабочий диапазон: (XY) ±40 мм, (Z) 125 мм
наклонный приемный стол	- Да.			Размер несущей поверхности: 140 (W) × 140 (D) мм Вес: 1 кг Рабочий диапазон: (XT) ±1°, (YT) ±1°
Качество устройства	Субъект: около 26 кг (кроме ПК)			Субъект: около 31 кг (кроме ПК) * 3
	Контрольный блок питания: около 6,7 кг
Размер устройства	Основная часть: 360 (W) × 446 (D) × 606 (H) mm			Основная часть: 360 (W) × 631 (D) × 606 (H) mm
	Емкости питания управления: 250 (W) × 270 (D) × 125 (H) mm
Стандарты питания	Входные спецификации: 100 - 240V (110VA) 50 / 60 Гц
Условия использования	Уровень без вибрации Температура: 15 - 30°C Влажность: 15 - 60% RH (без росы)

* 1 Компонент выбора * 2 Измерение в условиях данного общества * 3 Набор для измерения проницаемости сборки и набор для измерения отражения 45 градусов имеют общий вес 33 кг.

Да, объектив.
модель	USPM-OBL10X	USPM-OBL20X	USPM-OBL40X
коэффициент	10x	20x	40 раз
НА	0.12	0.24	0.24
Диапазон измерений * 4	70 мкм	34 мкм	17 мкм
Расстояние работы	14,3 мм	4,2 мм	2,2 мм
Радиус кривизны образца	±5 мм～	±1 мм～	±1 мм～

* 4 Точка диаметра

Похожий продукт рекомендовать