Атомный микроскоп

Атомный силовой микроскоп HR - AFMЭто профессиональный атомный силовой микроскоп с высоким разрешением, шум на оси Z ниже 35 пим. Это оборудование позволяет осуществлять наблюдение за микрообластями, трехмерной формой и многофазной структурой образца без ущерба для внутренней структуры образца; В то же время можно изучать физико - химические свойства поверхности образца, численное измерение и анализ.

Атомный силовой микроскоп HR - AFMСтандартный режим работы:

Режим постукивания (Vibration mode), режим контакта (Contact mode), режим фазового изображения (Phase imaging), режим поперечной силы (LFM), тест на кривую силы (Force Curve), наноманипуляция (Nanomanipulation), наногравирование (Nanolithography), матричная матрица (Force Mapping), тест на трение (Friction Mode)

Альтернативный режим работы: проводимый атомный силовой микроскоп (C - AFM), магнитный микроскоп (MFM), статический электрический микроскоп (EFM), сканирующий потенциальный микроскоп (SKPM).

Устройство имеет функцию автоматического ввода программного обеспечения. Автоматический ввод зонда осуществляется с помощью программного управления двигателем Z - направления.

Сканер с разделением трех осей X, Y, Z.

Диапазон сканирования 100 × 100 × 17 мкм

Разрешение оси Z 0035 нм

Размер стенда для образцов: 25 мм * 25 мм * 18 мм

Операционное программное обеспечение: Управление языком среды Laview, бесплатное предоставление операционного программного обеспечения, а также техническое обслуживание и обновление. Системы анализа данных Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE

Оптическое разрешение системы верхнего обзора составляет 2 микрона, поле зрения может быть отрегулировано от 2 мм * 2 мм до 300um * 300um, а увеличение - от 45 до 400 раз.

Система бокового обзора, обеспечивающая визуализацию нисходящей иглы, может точно наблюдать за процессом нисходящей иглы через компьютер, чтобы предотвратить столкновение.